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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2008-5-7 20:43:09 | 显示全部楼层

hhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhhh

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发表于 2008-5-9 09:54:21 | 显示全部楼层

Studying BST,Thanks!

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发表于 2008-5-14 23:13:58 | 显示全部楼层

Thanks for your share.

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发表于 2008-5-14 23:14:52 | 显示全部楼层

Thanks for your share.

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发表于 2008-5-15 14:29:44 | 显示全部楼层

qqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqqq

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发表于 2008-5-20 01:00:40 | 显示全部楼层

good reference

good reference

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发表于 2008-6-1 16:13:06 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2008-6-4 21:28:31 | 显示全部楼层

very good reference data!

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发表于 2008-6-10 20:14:53 | 显示全部楼层

jtag

jata i s a g hao dong xi

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发表于 2008-6-10 20:17:48 | 显示全部楼层

dddd

hao dng dong a

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