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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2007-12-27 22:49:50 | 显示全部楼层

谢谢FDSKJFHKSJHFKSH

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发表于 2008-2-2 14:42:06 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2008-2-3 13:31:55 | 显示全部楼层

xiexie

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发表于 2008-2-3 13:32:52 | 显示全部楼层

xiexie

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发表于 2008-2-4 10:26:29 | 显示全部楼层

Thanks

Good stuff

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发表于 2008-2-4 23:48:37 | 显示全部楼层

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发表于 2008-2-4 23:52:19 | 显示全部楼层

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发表于 2008-2-4 23:54:36 | 显示全部楼层

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发表于 2008-2-10 07:25:57 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2008-2-17 13:41:17 | 显示全部楼层

xie xie le

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