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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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发表于 2008-8-6 00:27:23 | 显示全部楼层
看看 先
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发表于 2008-8-6 00:29:22 | 显示全部楼层
看看先
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发表于 2008-8-6 00:31:01 | 显示全部楼层
谢谢 分享
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发表于 2008-8-11 22:49:02 | 显示全部楼层
嗯嗯第一次看到蠻少人使用jtag
感謝你的分享
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发表于 2008-8-12 04:34:11 | 显示全部楼层
謝謝大大的分享~~~~
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发表于 2008-8-14 21:09:03 | 显示全部楼层
xiexie
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发表于 2008-8-17 09:31:55 | 显示全部楼层
Thanks！
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Aimmy
发表于 2008-8-18 16:14:56 | 显示全部楼层
haohao
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Aimmy
发表于 2008-8-20 12:23:16 | 显示全部楼层
谢谢了
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Aimmy
发表于 2008-8-20 12:24:09 | 显示全部楼层
dindding
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