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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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发表于 2008-6-26 13:46:30 | 显示全部楼层

ggggggggg

gggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggggg
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发表于 2008-6-26 13:59:34 | 显示全部楼层

yyyyy

yyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyyy
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发表于 2008-7-13 12:40:10 | 显示全部楼层
Thanks for the sharing!
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microe
发表于 2008-7-13 15:07:52 | 显示全部楼层
没钱了
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microe
发表于 2008-7-13 15:09:32 | 显示全部楼层
赚钱不容易
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microe
发表于 2008-7-13 15:11:04 | 显示全部楼层
好不好啊
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发表于 2008-7-18 12:28:24 | 显示全部楼层
:hug: :hug: :hug:
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发表于 2008-7-18 12:33:50 | 显示全部楼层
:hug: :hug: :hug: :hug:
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发表于 2008-7-18 20:54:15 | 显示全部楼层
些下啊
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发表于 2008-7-18 20:55:03 | 显示全部楼层

谢谢啊

谢谢啊
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