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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2008-2-18 23:18:31 | 显示全部楼层

ding yi xia

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发表于 2008-2-26 15:53:59 | 显示全部楼层

Thanks for your share

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发表于 2008-2-27 00:21:25 | 显示全部楼层

xiexie ~~~~

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发表于 2008-2-27 22:28:53 | 显示全部楼层

useful...thank you

useful...thank you

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发表于 2008-3-2 22:15:22 | 显示全部楼层

谢谢楼主！

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发表于 2008-3-2 22:16:34 | 显示全部楼层

谢谢楼主！

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发表于 2008-3-3 14:23:33 | 显示全部楼层

o Ho hO H o

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发表于 2008-3-16 04:47:38 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

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发表于 2008-3-18 13:30:23 | 显示全部楼层

看看，希望还可以

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发表于 2008-3-18 18:08:33 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享……………………

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