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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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xhui
发表于 2007-12-1 17:23:13 | 显示全部楼层 |阅读模式

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xhui
 楼主| 发表于 2007-12-1 19:26:15 | 显示全部楼层
谢谢大家.....
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d_level
发表于 2007-12-11 03:11:25 | 显示全部楼层
好资料
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veiven26
发表于 2007-12-14 20:41:20 | 显示全部楼层
好东西～～～～
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:52:37 | 显示全部楼层
fsdfsfasdfsdf
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:53:41 | 显示全部楼层
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:54:37 | 显示全部楼层
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:55:31 | 显示全部楼层
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:56:18 | 显示全部楼层
:)
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:57:24 | 显示全部楼层
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