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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2017-3-6 11:02:13 | 显示全部楼层

学习一下，谢谢分享！！！

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发表于 2017-3-6 15:43:25 | 显示全部楼层

good inf

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发表于 2017-3-12 10:17:45 | 显示全部楼层

SANKS For Sharing

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发表于 2017-6-8 14:59:11 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享！

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发表于 2017-6-12 16:08:24 | 显示全部楼层

have a look,thanks!

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发表于 2017-6-15 12:50:39 | 显示全部楼层

thanks for your sharing

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发表于 2017-6-16 11:32:47 | 显示全部楼层

Thanks~we just study it!

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发表于 2017-6-26 19:36:58 | 显示全部楼层

问题比较全面，赞

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发表于 2017-6-27 17:18:06 | 显示全部楼层

回复 1# daiwei88
谢谢楼主！看起来挺不错的

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郝鑫_IC民工

发表于 2017-6-30 17:49:37 | 显示全部楼层

回复 1# daiwei88

超级感谢~~~~~~

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