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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2017-12-21 09:32:00 | 显示全部楼层

正好需要，真及时

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发表于 2018-1-26 22:09:47 | 显示全部楼层

挺好的资料，值得看

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发表于 2018-2-7 23:39:03 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2018-2-22 13:39:44 | 显示全部楼层

回复 1# daiwei88

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发表于 2018-5-2 14:40:52 | 显示全部楼层

thanks for share

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发表于 2018-5-2 16:23:33 | 显示全部楼层

回复 1# daiwei88 thanks

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发表于 2018-5-15 00:12:57 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2018-5-17 13:24:41 | 显示全部楼层

這帖子看起來不錯，謝謝分享

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发表于 2018-5-21 09:26:43 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享

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发表于 2018-5-21 09:31:20 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享

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