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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2015-6-24 13:49:28 | 显示全部楼层

ASIC可测试性设计技术.rar (784.9 KB)

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发表于 2015-7-22 09:23:45 | 显示全部楼层

谢谢楼主！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！

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西西在冰城

发表于 2015-7-26 21:06:17 | 显示全部楼层

谢楼主～～

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发表于 2015-7-27 22:14:15 | 显示全部楼层

楼主资料不错，顶一个

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发表于 2015-8-5 14:33:51 | 显示全部楼层

很好的资料，顶顶顶

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发表于 2015-8-5 16:45:16 | 显示全部楼层

不错的资料，谢谢分享！！

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发表于 2015-9-9 13:15:26 | 显示全部楼层

看看！！！

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发表于 2015-9-22 14:35:20 | 显示全部楼层

非常不错啊

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发表于 2015-10-1 00:21:27 | 显示全部楼层

这学期正好有测试这课

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发表于 2015-10-22 19:08:13 | 显示全部楼层

不錯的東西謝謝分享

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