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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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lwt231
发表于 2014-11-16 19:46:14 | 显示全部楼层
不错，谢谢分享!
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发表于 2014-11-17 21:26:01 | 显示全部楼层
不错的资料，顶一下
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ra3d
发表于 2014-11-28 23:17:59 | 显示全部楼层
好书，顶起！
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发表于 2014-12-5 18:56:38 | 显示全部楼层
学习学习了！！！
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发表于 2015-2-28 16:19:14 | 显示全部楼层
支持一下
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sample
发表于 2015-3-1 14:37:47 | 显示全部楼层
不错~~~~
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发表于 2015-3-20 12:08:07 | 显示全部楼层
ASIC可测试性设计技术.rar (784.9 KB)
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wuyueda
发表于 2015-3-20 16:09:24 | 显示全部楼层
好东西，支持
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发表于 2015-3-23 09:15:39 | 显示全部楼层
好东西，谢谢分享
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发表于 2015-3-24 09:41:17 | 显示全部楼层
good data  i will  download and study
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