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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2014-11-16 19:46:14 | 显示全部楼层

不错，谢谢分享!

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发表于 2014-11-17 21:26:01 | 显示全部楼层

不错的资料，顶一下

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发表于 2014-11-28 23:17:59 | 显示全部楼层

好书，顶起！

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发表于 2014-12-5 18:56:38 | 显示全部楼层

学习学习了！！！

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发表于 2015-2-28 16:19:14 | 显示全部楼层

支持一下

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发表于 2015-3-1 14:37:47 | 显示全部楼层

不错~~~~

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发表于 2015-3-20 12:08:07 | 显示全部楼层

ASIC可测试性设计技术.rar (784.9 KB)

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发表于 2015-3-20 16:09:24 | 显示全部楼层

好东西，支持

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发表于 2015-3-23 09:15:39 | 显示全部楼层

好东西，谢谢分享

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发表于 2015-3-24 09:41:17 | 显示全部楼层

good data i will download and study

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