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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2018-5-21 09:32:33 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享

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发表于 2018-7-12 00:04:21 | 显示全部楼层

帮顶一下

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发表于 2018-8-6 10:36:30 | 显示全部楼层

很有用的书籍，谢谢楼主分享

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发表于 2018-9-5 15:37:11 | 显示全部楼层

中文的支持

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发表于 2018-9-6 13:14:59 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

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发表于 2018-9-14 10:33:22 | 显示全部楼层

好东西，谢谢楼主

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发表于 2018-10-15 10:51:47 | 显示全部楼层

有两个图看不了啊，不知道能不能找到原图

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发表于 2018-10-19 23:54:29 | 显示全部楼层

哒哒哒哒哒哒多多多

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发表于 2018-10-27 22:23:03 | 显示全部楼层

看看学习一下

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发表于 2018-10-31 10:43:54 | 显示全部楼层

感谢楼主分享

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