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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2018-11-17 20:23:00 | 显示全部楼层

多谢多谢

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发表于 2018-11-17 22:23:23 | 显示全部楼层

都是好资料

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发表于 2019-11-27 16:21:01 | 显示全部楼层

虽然是比较老的资料，但内容还是不错的

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发表于 2019-12-8 03:47:54 | 显示全部楼层

非常感谢。

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发表于 2020-9-7 09:42:05 | 显示全部楼层

好像还不错

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发表于 2020-9-7 10:09:37 | 显示全部楼层

谢谢，感谢分享

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发表于 2020-9-21 16:11:58 | 显示全部楼层

感谢分享

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发表于 2020-9-23 00:24:13 | 显示全部楼层

不错的资源

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发表于 2020-12-2 14:19:20 | 显示全部楼层

看看，好资料

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发表于 2020-12-29 09:29:24 来自手机 | 显示全部楼层

感谢

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