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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2012-5-29 18:16:25 | 显示全部楼层

好资料

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发表于 2012-5-29 21:31:29 | 显示全部楼层

good.3x

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发表于 2012-8-27 22:45:27 | 显示全部楼层

思考代理费就阿卡多架客机公开赛

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发表于 2012-8-28 16:39:29 | 显示全部楼层

THANKS.................

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发表于 2012-8-28 16:40:26 | 显示全部楼层

THANKS ......................

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发表于 2012-8-28 17:19:09 | 显示全部楼层

good data

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发表于 2012-8-28 21:35:46 | 显示全部楼层

kankan

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发表于 2012-8-29 12:23:48 | 显示全部楼层

可以看下。。。

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发表于 2013-3-22 14:38:52 | 显示全部楼层

谢谢分享资料

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发表于 2013-9-29 08:48:43 | 显示全部楼层

回复 1# daiwei88

学习学习~

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