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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理

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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

发表于 2016-8-18 16:39:49 | 显示全部楼层

感谢分享

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发表于 2016-8-29 17:17:33 | 显示全部楼层

thank you very much

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发表于 2016-9-4 20:50:06 | 显示全部楼层

谢谢了，楼主。

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发表于 2016-9-5 23:43:44 | 显示全部楼层

看看！谢谢

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发表于 2016-9-14 11:26:31 | 显示全部楼层

下下来看看

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发表于 2016-9-14 21:43:09 | 显示全部楼层

没啥内容！不过谢谢了

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发表于 2017-11-22 10:29:25 | 显示全部楼层

不错的资料

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爱睡懒觉的鱼

发表于 2017-11-22 13:38:40 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2017-12-23 10:31:24 | 显示全部楼层

谢谢分享~~~~

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发表于 2018-8-1 11:57:41 | 显示全部楼层

顶一下谢谢！

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