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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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blg322
发表于 2015-4-3 10:33:33 | 显示全部楼层
谢谢分享谢谢分享
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发表于 2015-11-17 21:03:11 | 显示全部楼层
这么业余的东西也拿出来！！！！！！
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发表于 2015-11-23 10:08:12 | 显示全部楼层
边界扫描(Boundary scan )测试原理

测试
边界扫描(Boundary scan )测试原理

Boundary scan.doc (64 KB)
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发表于 2016-2-3 16:05:14 | 显示全部楼层
谢谢谢谢
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jr0a
发表于 2016-7-1 14:40:03 | 显示全部楼层
thnks
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发表于 2016-8-18 16:39:49 | 显示全部楼层
感谢分享
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发表于 2016-8-29 17:17:33 | 显示全部楼层
thank you very much
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shu0425
发表于 2016-9-4 20:50:06 | 显示全部楼层
谢谢了，楼主。
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heart
发表于 2016-9-5 23:43:44 | 显示全部楼层
看看！谢谢
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发表于 2016-9-14 11:26:31 | 显示全部楼层
下下来看看
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