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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理

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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

发表于 2013-8-13 13:48:15 | 显示全部楼层

不错资料

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发表于 2013-8-21 19:52:21 | 显示全部楼层

不说啥

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杭州太美丽

发表于 2013-8-22 22:07:22 | 显示全部楼层

回复 1# iamkenhuang

下来看看，谢谢

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发表于 2013-8-27 09:59:26 | 显示全部楼层

资料一般啊

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发表于 2013-10-4 21:33:42 | 显示全部楼层

学习一下，谢谢分享

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发表于 2013-10-11 09:40:01 | 显示全部楼层

ding ~Q!!!!!!!!!!!!!!!!

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发表于 2013-10-12 22:05:29 | 显示全部楼层

其实这些东西很重要的，基本功

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发表于 2013-10-27 13:17:47 | 显示全部楼层

手下，谢谢！

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发表于 2013-11-5 21:43:06 | 显示全部楼层

回复 1# iamkenhuang

扫盲扫盲

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发表于 2013-11-8 16:24:21 | 显示全部楼层

大力支持好东西

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