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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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kobefly225
发表于 2020-5-7 08:48:28 | 显示全部楼层
kankan
最近在看相关的东西 谢谢分享
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zhangrenzhe001
发表于 2020-8-10 17:49:19 | 显示全部楼层
非常感谢
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clslhy
发表于 2022-1-15 14:54:59 | 显示全部楼层
谢谢分享
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yw8381
发表于 2022-2-18 15:13:55 | 显示全部楼层
感谢分享
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发表于 2022-2-21 13:23:14 | 显示全部楼层
this is professional precious datas !!! thanks for you sharing !!!  excellent !!!
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发表于 2022-9-10 08:49:11 | 显示全部楼层
谢谢分享
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jacke_jacke
发表于 2022-9-21 10:38:37 | 显示全部楼层
谢谢分享
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sutaotao2001
发表于 2022-9-22 06:54:52 | 显示全部楼层
谢谢了
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ichsim
发表于 2022-9-22 08:29:05 | 显示全部楼层
感谢分享
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flow0705
发表于 2022-9-24 10:33:19 | 显示全部楼层
不错，谢谢分享
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