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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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发表于 2016-9-14 21:43:09 | 显示全部楼层
没啥内容！不过谢谢了
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发表于 2017-11-22 10:29:25 | 显示全部楼层
不错的资料
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发表于 2017-11-22 13:38:40 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2017-12-23 10:31:24 | 显示全部楼层
谢谢分享~~~~
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发表于 2018-8-1 11:57:41 | 显示全部楼层
顶一下   谢谢！
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发表于 2018-9-26 17:45:37 | 显示全部楼层
感谢分享，谢谢
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发表于 2018-10-16 12:20:15 | 显示全部楼层
thanks very much
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lling65
发表于 2019-4-18 17:12:51 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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发表于 2019-4-24 15:12:56 | 显示全部楼层
Thanks
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发表于 2019-4-28 16:10:24 | 显示全部楼层
谢谢分享
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