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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2011-10-23 01:12:16 | 显示全部楼层

ding ,have a look

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发表于 2011-11-1 14:17:30 | 显示全部楼层

回复 1# xhui

谢谢分享！！！

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发表于 2011-11-3 22:53:35 | 显示全部楼层

回复 1# xhui

Thank you very much!

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发表于 2011-11-16 14:45:07 | 显示全部楼层

回复 1# xhui

some parts were missing?

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发表于 2011-12-13 10:32:04 | 显示全部楼层

THANKS!

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发表于 2011-12-21 07:11:13 | 显示全部楼层

Nice book !!!!!!!!

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发表于 2012-3-8 17:48:26 | 显示全部楼层

you mei qian le

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发表于 2012-3-8 20:34:48 | 显示全部楼层

kankan

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发表于 2012-4-30 19:14:30 | 显示全部楼层

thanks for sharing, studying ..........

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发表于 2012-8-7 10:15:27 | 显示全部楼层

非常感谢！

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