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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2011-1-22 19:31:48 | 显示全部楼层

好资料

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发表于 2011-1-23 10:47:35 | 显示全部楼层

好东西～～～～

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发表于 2011-1-26 21:17:32 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2011-1-26 21:23:16 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2011-4-6 18:07:11 | 显示全部楼层

感謝分享資料

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发表于 2011-4-11 16:01:23 | 显示全部楼层

及时雨呀

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发表于 2011-4-27 15:45:27 | 显示全部楼层

thanks for sharing!

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发表于 2011-5-14 11:04:03 | 显示全部楼层

不错错不错

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发表于 2011-5-20 18:47:10 | 显示全部楼层

good jobs...thanks for sharing...

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发表于 2011-5-29 00:19:26 | 显示全部楼层

谢谢大家.....

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