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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version

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楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

发表于 2017-5-8 15:25:04 | 显示全部楼层

thanks for share!

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发表于 2017-5-9 15:10:13 | 显示全部楼层

多谢LZ分享。。

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发表于 2017-5-25 17:25:30 | 显示全部楼层

thanks for your data

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发表于 2017-9-16 02:00:03 | 显示全部楼层

Thank you for sharing.
nice document.

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发表于 2018-9-3 10:05:13 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2018-9-6 13:22:46 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

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发表于 2018-9-14 10:35:27 | 显示全部楼层

好东西，谢谢楼主

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发表于 2018-9-18 15:48:24 | 显示全部楼层

顶一下谢谢

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发表于 2019-12-27 16:21:03 | 显示全部楼层

Just 15 pages, not a complete version~
Thanks, anyway~

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发表于 2024-12-26 14:52:30 | 显示全部楼层

谢谢分享

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