设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version

1 2 345 6 7 8 / 8 页下一页

返回列表发新帖

楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

发表于 2010-4-13 04:04:17 | 显示全部楼层

thanks a lot !

回复支持反对

发表于 2010-4-24 09:59:12 | 显示全部楼层

thanks for sharing

回复支持反对

发表于 2010-4-26 11:09:33 | 显示全部楼层

为什么是soft test啊，
正在学习test，ld推荐一点经典啊

回复支持反对

发表于 2010-4-29 22:26:18 | 显示全部楼层

分享分享

回复支持反对

发表于 2010-7-2 08:51:51 | 显示全部楼层

有全文吗？

回复支持反对

发表于 2010-7-5 13:39:52 | 显示全部楼层

take a look

回复支持反对

发表于 2010-7-8 16:24:32 | 显示全部楼层

顶~~~

回复支持反对

发表于 2010-8-11 22:49:45 | 显示全部楼层

我也顶

回复支持反对

发表于 2010-8-12 11:41:46 | 显示全部楼层

大力支持好东西

回复支持反对

发表于 2010-10-2 23:27:18 | 显示全部楼层

thanks

回复支持反对

1 2 345 6 7 8 / 8 页下一页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-25 03:54 , Processed in 0.075766 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表