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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan原理介绍(Soft Test),english version

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楼主: liuyunwujia

Scan原理介绍(Soft Test),english version

发表于 2010-10-7 11:13:04 | 显示全部楼层

感谢楼主分享！！！！！！！！！！！！！！

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发表于 2010-11-18 10:55:55 | 显示全部楼层

thanks a lot

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发表于 2010-12-1 00:35:57 | 显示全部楼层

谢谢！

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200728015127036

发表于 2010-12-3 19:19:59 | 显示全部楼层

谢谢啊·····

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发表于 2010-12-4 20:32:01 | 显示全部楼层

scan is real-work, thx

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发表于 2010-12-5 01:11:44 | 显示全部楼层

谢谢楼主的分享

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发表于 2010-12-9 22:49:00 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享…………

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发表于 2010-12-10 00:33:38 | 显示全部楼层

thanks !!

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发表于 2010-12-10 23:55:54 | 显示全部楼层

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发表于 2011-3-2 20:50:02 | 显示全部楼层

thanks

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