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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

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楼主: seeklot

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

发表于 2010-8-12 12:13:08 | 显示全部楼层

大力支持好东西

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发表于 2010-8-26 11:34:50 | 显示全部楼层

thank you for sharing

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发表于 2010-8-28 18:54:42 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2010-8-31 23:11:43 | 显示全部楼层

剛入這行,正需要相關的學習資料... THK~~~

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发表于 2010-9-1 18:19:55 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2010-9-1 19:56:54 | 显示全部楼层

好东西，顶一个！

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发表于 2010-12-10 11:46:01 | 显示全部楼层

怎么给删了？

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发表于 2013-5-29 16:05:12 | 显示全部楼层

hahaohaohaohahaoh

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发表于 2017-6-10 08:29:49 | 显示全部楼层

谢谢楼主

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发表于 2017-6-22 19:55:31 | 显示全部楼层

回复 1# seeklot

nice

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