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基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

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发表于 2008-7-23 10:19:17 | 显示全部楼层 |阅读模式

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基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.pdf

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发表于 2008-7-27 18:48:21 | 显示全部楼层
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发表于 2008-7-29 09:09:51 | 显示全部楼层
好东西,谢谢楼主!
发表于 2008-7-29 22:20:42 | 显示全部楼层
嗯嗯我想知道是不是書籍的
還是說只是一般文件
感謝你的分享
发表于 2008-7-30 22:47:15 | 显示全部楼层
:lol
发表于 2008-8-4 11:01:51 | 显示全部楼层
发表于 2008-8-4 11:04:19 | 显示全部楼层
bu zen me yang!
发表于 2008-8-4 16:23:16 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2008-8-22 14:33:55 | 显示全部楼层
发表于 2008-8-26 06:44:41 | 显示全部楼层
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