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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

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楼主: seeklot

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

发表于 2008-12-28 23:22:27 | 显示全部楼层

感謝分享

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发表于 2008-12-30 13:25:23 | 显示全部楼层

thanks a lot

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发表于 2008-12-31 11:02:53 | 显示全部楼层

是一篇营养不良的国内综述性文章，没有深度，接触过的朋友可以直接掠过，没必要下载

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发表于 2009-1-6 21:49:48 | 显示全部楼层

谢谢！

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发表于 2009-1-9 17:49:58 | 显示全部楼层

好东西，谢谢楼主！

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发表于 2009-3-1 16:42:27 | 显示全部楼层

谢谢你的分享

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发表于 2009-3-4 06:25:12 | 显示全部楼层

op好东西，谢谢楼主！

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发表于 2009-3-4 12:22:10 | 显示全部楼层

good。。。。。。。。

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发表于 2009-3-9 12:15:38 | 显示全部楼层

这个好，很感谢～

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发表于 2009-3-9 17:01:29 | 显示全部楼层

学习中

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