设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片测试的入门书籍

1 ... 33 34 35 36 37 383940 41 / 41 页下一页

返回列表发新帖

楼主: beararound

芯片测试的入门书籍

发表于 2013-11-19 19:58:45 | 显示全部楼层

谢谢LZ，学习

回复支持反对

发表于 2013-11-19 19:59:37 | 显示全部楼层

谢谢，学习一下。

回复支持反对

发表于 2013-11-20 21:53:59 | 显示全部楼层

thanks for sharing
it's a good reference

回复支持反对

发表于 2013-11-21 10:20:42 | 显示全部楼层

Thank you for sharing!

回复支持反对

发表于 2013-12-19 13:19:08 | 显示全部楼层

感谢楼主

回复支持反对

发表于 2013-12-20 22:55:48 | 显示全部楼层

学习学习

回复支持反对

发表于 2013-12-23 21:49:00 | 显示全部楼层

这本书不错啊

回复支持反对

发表于 2014-3-17 15:41:05 | 显示全部楼层

谢谢楼主。中文的还是英文的？

回复支持反对

发表于 2014-3-22 21:45:37 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享哈

回复支持反对

发表于 2021-11-11 06:50:08 | 显示全部楼层

谢谢

回复支持反对

1 ... 33 34 35 36 37 383940 41 / 41 页下一页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-26 00:36 , Processed in 0.076242 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表