设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片测试的入门书籍

1 ... 33 34 35 36 373839 40 41 / 41 页下一页

返回列表发新帖

楼主: beararound

芯片测试的入门书籍

发表于 2013-9-18 12:29:25 | 显示全部楼层

下下来打不开怎么回事

回复支持反对

发表于 2013-9-23 21:15:28 | 显示全部楼层

回复 1# beararound

看看，谢谢了。

回复支持反对

发表于 2013-9-24 17:58:26 | 显示全部楼层

wonderful,great support

回复支持反对

发表于 2013-9-24 18:11:43 | 显示全部楼层

不错，都是经典

回复支持反对

发表于 2013-9-24 19:10:33 | 显示全部楼层

是啥好东西？

回复支持反对

发表于 2013-10-27 09:18:30 | 显示全部楼层

that is so nice !thanks

回复支持反对

发表于 2013-11-1 16:52:54 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享，学习了

回复支持反对

发表于 2013-11-13 22:09:37 | 显示全部楼层

回复 1# beararound

值得学习

回复支持反对

发表于 2013-11-19 01:33:39 | 显示全部楼层

entry level book

回复支持反对

发表于 2013-11-19 15:29:34 | 显示全部楼层

经典的入门书

回复支持反对

1 ... 33 34 35 36 373839 40 41 / 41 页下一页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-28 14:06 , Processed in 0.089071 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表