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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2019-4-3 20:18:57 | 显示全部楼层

感谢楼主分享

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发表于 2020-11-30 12:26:41 | 显示全部楼层

好资料，谢谢分享！

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发表于 2021-1-15 15:59:23 来自手机 | 显示全部楼层

感谢

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发表于 2021-1-19 21:56:21 来自手机 | 显示全部楼层

感谢

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发表于 2021-1-19 23:50:33 来自手机 | 显示全部楼层

感谢

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发表于 2021-3-30 23:59:40 | 显示全部楼层

无法解压？

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pradeepmadhava1

发表于 2022-3-25 14:00:42 来自手机 | 显示全部楼层

Thanks

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发表于 2022-3-28 01:16:25 | 显示全部楼层

thanks a lot

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发表于 2022-3-28 10:25:23 | 显示全部楼层

好好学习下

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发表于 2022-3-29 09:54:20 | 显示全部楼层

thx

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