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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2010-3-16 09:21:20 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2010-3-19 09:16:40 | 显示全部楼层

j看看

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发表于 2010-3-19 09:17:50 | 显示全部楼层

1# xhui

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发表于 2010-3-25 17:17:23 | 显示全部楼层

学习学习， 1# xhui

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发表于 2010-3-25 17:25:59 | 显示全部楼层

怎么打开出错啊， 1# xhui

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发表于 2010-3-25 19:38:23 | 显示全部楼层

hhhhhhhhhhhhhhh好，看了才知道 1# xhui

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发表于 2010-3-25 21:42:36 | 显示全部楼层

a good book

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发表于 2010-3-26 11:48:11 | 显示全部楼层

good, thanks.

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发表于 2010-3-28 23:23:13 | 显示全部楼层

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发表于 2010-4-1 10:38:12 | 显示全部楼层

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