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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Test coverage improvement for DFT

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楼主: gangersun

[资料] Test coverage improvement for DFT

发表于 2019-3-22 20:11:41 | 显示全部楼层

it looks good. thanks

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发表于 2019-3-27 21:20:07 | 显示全部楼层

感谢分享！

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发表于 2019-7-31 18:51:08 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2020-2-22 20:19:00 | 显示全部楼层

good paper

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发表于 2020-3-6 17:30:31 | 显示全部楼层

see see

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发表于 2020-6-7 12:16:09 | 显示全部楼层

goooooooooooooooood

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发表于 2020-7-21 23:36:39 | 显示全部楼层

Thanks~

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发表于 2021-9-9 16:20:08 | 显示全部楼层

感谢分享。

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发表于 2021-9-12 21:40:53 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2021-9-13 14:12:08 | 显示全部楼层

感谢分享。

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