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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Test coverage improvement for DFT

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楼主: gangersun

[资料] Test coverage improvement for DFT

发表于 2011-9-6 00:55:30 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

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发表于 2011-9-22 20:51:01 | 显示全部楼层

谢谢分享！

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发表于 2011-10-11 18:14:14 | 显示全部楼层

Thanks a lot.

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发表于 2011-11-1 15:22:56 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2011-11-3 20:01:59 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2012-1-11 15:36:59 | 显示全部楼层

看看有什么新内容

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发表于 2012-1-30 15:14:50 | 显示全部楼层

thanks for your information.............
thanks...........

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发表于 2012-3-12 23:32:41 | 显示全部楼层

正需要提高DFT coverage

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发表于 2012-3-13 14:01:29 | 显示全部楼层

Nice share~

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发表于 2012-3-13 19:49:03 | 显示全部楼层

kankan

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