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楼主: squall418

[资料] Wafer-level Testing and Test During Burn-in for Integrated Circuits

发表于 2013-8-14 16:05:36 | 显示全部楼层

同事说是好东西

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发表于 2013-8-23 09:22:36 | 显示全部楼层

burn in 正好要用，多谢分享

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发表于 2013-9-4 22:59:30 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2013-12-11 14:15:21 | 显示全部楼层

thx for sharing!

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发表于 2014-2-14 14:03:11 | 显示全部楼层

zhichi!!!!!!!!

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发表于 2014-3-17 13:20:24 | 显示全部楼层

谢谢楼主提供资料

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发表于 2014-3-25 14:45:54 | 显示全部楼层

dinging

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发表于 2014-3-29 22:51:31 | 显示全部楼层

gfdshj

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发表于 2014-4-17 17:04:25 | 显示全部楼层

回复 1# squall418

多谢分享

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发表于 2014-4-19 19:06:56 | 显示全部楼层

svgggreg

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