设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › VLSI Test Principles and Architectures Design for Te ...

1 2 3 45 / 5 页

返回列表发新帖

楼主: wjtxjtu2006

[资料] VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

发表于 2016-9-18 22:58:40 | 显示全部楼层

VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.rar (4.79 MB)

回复支持反对

发表于 2017-6-28 17:41:59 | 显示全部楼层

classic dft book.

回复支持反对

发表于 2017-9-27 13:16:47 | 显示全部楼层

good dft book

回复支持反对

发表于 2018-4-8 08:26:30 | 显示全部楼层

感谢分享~~~

回复支持反对

发表于 2018-4-8 13:42:41 | 显示全部楼层

回复 1# wjtxjtu2006

thanks

回复支持反对

发表于 2018-5-15 16:48:17 | 显示全部楼层

Design for Test，谢谢分享

回复支持反对

发表于 2018-5-15 20:53:53 | 显示全部楼层

Thank for your book

回复支持反对

发表于 2018-5-17 03:48:39 | 显示全部楼层

Thank you

回复支持反对

1 2 3 45 / 5 页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-6-2 07:42 , Processed in 0.064166 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表