在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: wjtxjtu2006

[资料] VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

[复制链接]
发表于 2010-8-3 11:58:03 | 显示全部楼层
xieixie~~~~
发表于 2010-8-7 21:19:23 | 显示全部楼层
测试很重要
发表于 2010-8-7 21:26:49 | 显示全部楼层
do you hire new guys?
发表于 2010-8-7 21:28:12 | 显示全部楼层
test is everything!!!
发表于 2010-8-8 00:12:55 | 显示全部楼层
谢谢了
发表于 2011-3-21 19:18:50 | 显示全部楼层
这本书都有,了不起
发表于 2011-3-22 09:40:13 | 显示全部楼层
非常感谢分享
发表于 2011-3-24 19:06:24 | 显示全部楼层
good, thanks.
发表于 2011-3-24 19:49:18 | 显示全部楼层
回复 1# wjtxjtu2006


    goood
发表于 2011-3-24 19:50:23 | 显示全部楼层
回复 20# caltech_usa


    much
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-31 18:30 , Processed in 0.145652 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表