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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › VLSI test principles and architectures

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楼主: zuzumi

VLSI test principles and architectures

发表于 2010-1-16 13:01:05 | 显示全部楼层

限10 在线时间18 小时注册时间2008-6-6 最后登录2009-12-

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发表于 2010-1-16 13:14:05 | 显示全部楼层

线时间207 小时注册时间2008-6-23 最后登录2010-1-16

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发表于 2010-1-16 21:25:45 | 显示全部楼层

thanks!!!

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发表于 2010-1-17 19:11:26 | 显示全部楼层

測試自己的電路,
感謝分享

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beckham07360736

发表于 2010-1-17 19:46:44 | 显示全部楼层

good..........

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beckham07360736

发表于 2010-1-19 22:04:34 | 显示全部楼层

nice~~~~~~~~~

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beckham07360736

发表于 2010-1-19 22:41:14 | 显示全部楼层

good................

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发表于 2010-1-20 11:48:42 | 显示全部楼层

what is this ?

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发表于 2010-1-20 11:50:54 | 显示全部楼层

good share

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发表于 2010-1-22 06:25:09 | 显示全部楼层

谢谢楼主的分享~~

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