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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › VLSI test principles and architectures

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楼主: zuzumi

VLSI test principles and architectures

发表于 2009-11-29 14:13:20 | 显示全部楼层

good thanks!

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发表于 2009-11-30 20:41:17 | 显示全部楼层

GOOD BOOK FOR SHARING

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发表于 2009-11-30 22:01:52 | 显示全部楼层

靠有这么骗人的啊，没有第三部分啊，说不定后面还有啥的

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发表于 2009-12-2 08:29:46 | 显示全部楼层

xie xie............

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发表于 2009-12-8 17:34:50 | 显示全部楼层

不错东东，学习中，谢谢楼主

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发表于 2009-12-9 00:40:01 | 显示全部楼层

多谢楼主的厚道

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发表于 2009-12-9 00:42:02 | 显示全部楼层

多谢了

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发表于 2009-12-9 00:44:40 | 显示全部楼层

是啊楼主没part3 没法解压啊？？？、

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发表于 2010-1-12 20:10:26 | 显示全部楼层

谢谢啊

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发表于 2010-1-14 23:07:00 | 显示全部楼层

thanks a lot

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