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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf ...
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楼主: xianxiao

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf

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发表于 2008-10-16 21:28:55 | 显示全部楼层
thanks
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发表于 2008-10-19 00:35:57 | 显示全部楼层
了解一下
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oulin99
发表于 2008-11-2 09:37:51 | 显示全部楼层
支持，谢谢。
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发表于 2008-12-25 16:48:40 | 显示全部楼层
好东西~!~
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cnzhang
发表于 2008-12-29 14:49:24 | 显示全部楼层
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发表于 2009-3-24 17:06:15 | 显示全部楼层
正在研究扫描链
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发表于 2009-4-13 03:35:26 | 显示全部楼层
謝謝樓主發帖，頂上去。
謝謝樓主共享，頂上去。
謝謝樓主共享，頂上去。
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发表于 2010-2-11 21:29:47 | 显示全部楼层
楼主好人啊，下来看看
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发表于 2010-2-11 21:39:45 | 显示全部楼层
这个也很好啊？
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发表于 2010-2-12 00:57:14 | 显示全部楼层
good data, thx
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