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查看: 7606|回复: 29

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf

发表于 2008-7-5 19:59:52 | 显示全部楼层 |阅读模式

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减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf

测试, 集成电路, 时间

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf

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发表于 2008-7-18 21:01:29 | 显示全部楼层

在次感谢

在次感谢

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发表于 2008-7-19 11:30:56 | 显示全部楼层

号东东

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发表于 2008-8-10 19:16:05 | 显示全部楼层

好东西，谢谢！

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发表于 2008-8-12 04:45:09 | 显示全部楼层

謝謝大大的分享~~~~

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发表于 2008-8-20 16:42:44 | 显示全部楼层

ding d

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发表于 2008-9-24 23:04:23 | 显示全部楼层

hao a a aa a a a

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发表于 2008-9-25 17:01:19 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享
希望是比较系统的教程

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发表于 2008-9-26 16:43:53 | 显示全部楼层

thanks for sharing

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发表于 2008-9-26 16:44:52 | 显示全部楼层

希望是比较系统的教程

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