设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › A new ATPG technique for testing of mixed-signal cir ...

123 / 3 页下一页

返回列表发新帖

楼主: chandler

A new ATPG technique for testing of mixed-signal circuits

发表于 2008-11-27 18:50:16 | 显示全部楼层

谢谢分享!

回复支持反对

发表于 2008-12-2 00:21:26 | 显示全部楼层

比较经典看看

回复支持反对

发表于 2008-12-2 14:00:39 | 显示全部楼层

多谢了, 楼主

回复支持反对

发表于 2008-12-2 15:01:56 | 显示全部楼层

挺好的资料。。。多谢！

回复支持反对

发表于 2009-3-3 08:27:25 | 显示全部楼层

谢谢了！！！

回复支持反对

发表于 2009-3-3 21:40:59 | 显示全部楼层

这本书还是不错

回复支持反对

发表于 2009-3-9 17:25:43 | 显示全部楼层

than,sssssssssss

回复支持反对

发表于 2009-12-28 11:52:11 | 显示全部楼层

no money to download, have to guanshui....

回复支持反对

发表于 2010-1-23 23:25:33 | 显示全部楼层

thanks for your sharing.

回复支持反对

发表于 2010-6-8 16:57:41 | 显示全部楼层

谢谢搂住分享…………

回复支持反对

123 / 3 页下一页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-28 14:56 , Processed in 0.105622 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表