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[资料] GJB 128B-2021《半导体分立器件试验方法》

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发表于 2025-4-9 16:01:18 | 显示全部楼层 |阅读模式

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GJB 128B-2021《半导体分立器件试验方法》
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GJB 128B-2021《半导体分立器件试验方法》.part4.rar

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 楼主| 发表于 2025-4-9 16:02:55 | 显示全部楼层
GJB 8897-2017 军用电子元器件失效分析要求与方法
这份会稍微模糊一点

GJB 8897-2017 军用电子元器件失效分析要求与方法.pdf

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