生成pattern存在shadow element并导致仿真有mismatch

AlbertJhun · 发表于 2024-8-19 10:15:50

想请教各位大佬，在生成scan pattern的过程中存在很多shadow elements，虽然报warning但是在跑serial simulation时会报告这些shadow elements mismatch。

想问一下这些shadow elements产生原因（多数是触发器的默认值非0），是因为综合时器件类型导致的还是RTL本身的问题，还有如果set_shadow_check false对后续测试是否有影响？

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AlbertJhun · 发表于 2024-8-23 09:57:25

目前问题已解决，是scan对应的atpglib有问题的cell中包含两组触发器，在生成pattern的时候会识别另一组带QN的触发器为shadow element，因此只需要注释掉带QN的触发器instance，并用inv替换含QN的buf逻辑即可

fangwang85 · 发表于 2024-12-26 13:57:34

AlbertJhun 发表于 2024-8-23 09:57
目前问题已解决，是scan对应的atpglib有问题的cell中包含两组触发器，在生成pattern的时候会识别另一组带QN ...

您说的是 multi-bit触发器吗

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