关于芯片参考晶振的一些问题求助讨论

497514980 · 发表于 2024-7-28 10:38:23

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请教大家一些问题，1、如图，在测试锁相环芯片的时候发现频谱上有很多参考输入的谐波，参考是32M的无源晶振，发现在4次谐波（128M）和6次谐波（192M）处有很大的杂散，并且在PCB的左右SMA头都能检测出基本相同的杂散分离，即使这些SMA引出的输入输出与PLL在芯片内没有连接。请问有遇到这种情况吗？2、一般无源晶振相位噪声性能如何？一般说明书都是写着频率稳定性，对于相位噪声并没有给参考，如果要想获得极低的参考相位噪声该如何实现呢？比如运用在射频领域的PLL参考。采用有源晶振吗？如果采用有源晶振是不是就不选用fab提供的oscilator IO呢？工艺厂提供的标准晶振IO可以采用有源晶振直接输入吗? 3、如果采用无源晶振的芯片需要和其他芯片时钟同步，是不是需要芯片引出一个时钟输出端口呢？不然芯片之间一般如何实现时钟同步呢？

jiajie109 · 发表于 2024-7-28 15:43:41

用无源晶振，性能没有问题。

497514980 · 发表于 2024-7-28 16:33:43

jiajie109 发表于 2024-7-28 15:43
用无源晶振，性能没有问题。

请问您是指什么性能没问题呢？

497514980 · 发表于 2024-7-28 18:02:18

自顶，恳请大佬们jieda

jiajie109 · 发表于 2024-7-28 19:20:22

497514980 发表于 2024-7-28 16:33
请问您是指什么性能没问题呢？

可以满足射频的性能要求。

497514980 · 发表于 2024-7-29 12:29:05

jiajie109 发表于 2024-7-28 19:20
可以满足射频的性能要求。

请问我怎么知道无源晶振的相位噪声性能呢

497514980 · 发表于 2024-7-29 12:44:38

请问出现上述参考信号的谐波是正常的吗，怎么处理干净呢？

jiajie109 · 发表于 2024-7-29 13:48:21

497514980 发表于 2024-7-29 12:29
请问我怎么知道无源晶振的相位噪声性能呢

可以用频谱仪直接测相噪啊

497514980 · 发表于 2024-7-29 14:05:55

jiajie109 发表于 2024-7-29 13:48
可以用频谱仪直接测相噪啊

随便从无源晶振XIN或XOUT一端引出吗

alienwarexie · 发表于 2024-7-29 14:07:50

pll的DC电源纯净吗，必须保证电源的低纹波，不然就会有杂散

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