使用FPGA实现EDT DC/AC Scan有谁搞过？

qfmyue · 发表于 2024-7-17 19:29:45

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前置条件：芯片内已实现EDT EDT DC/AC Scan相关的逻辑插入；
测试环境：FPGA和DUT位于同一个测试板上，DUT的DFT测试所需的所有signals都进FPGA，FPGA工作在100MHz。
测试pattern：Tessert生成的压缩后EDT_*.wgl文件, 基于scan channel的pattern
实现目标：基于FPGA进行DUT的EDT AC/DC scan测试；
大致过程：解析wgl文件转换成 FPGA易于处理的waveform，生成测试波形灌入DUT，scan out实时分析结果，并给出诊断位置。
请问，说做过这个类似的项目，或者有相关资源推荐。

wjw1997 · 发表于 2024-10-29 11:06:05

这是让FPGA代替ATE数字板卡了

wyx_119 · 发表于 2025-2-25 17:21:07

https://patents.google.com/patent/CN116008791B/zh
这里有篇专利，看起来满足需求，但还是想要更多的具体实现细节

jinfeier · 发表于 2025-2-27 14:30:01

wyx_119 发表于 2025-2-25 17:21
https://patents.google.com/patent/CN116008791B/zh
这里有篇专利，看起来满足需求，但还是想要更多的具体 ...

佬，可以说下专利名称嘛，网址打不开

wyx_119 · 发表于 2025-2-28 15:05:56

jinfeier 发表于 2025-2-27 14:30
佬，可以说下专利名称嘛，网址打不开

基于fpga的芯片dft测试电路、方法及测试机台

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