Testing and Design-for-Testability (DFT) for Digital Integrated Circuits

邝卓宇 · 发表于 2024-5-20 09:18:15

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IEP_C2SD_2017_HR.pdf (1.17 MB , 下载次数: 128 )
Hafizur Rahaman(hafizur@vlsi.iiests.ac.in)School of VLSI TechnologyIndian Institute of Engineering Science and Technology (IIEST), ShibpurIndiaIEP on Introduction to Analog and Digital VLSI Design held at IIT Guwahati on 13th April 17

95页的PPT，比较全

icroad · 发表于 2024-5-22 00:17:46

多谢分享

flscut · 发表于 2024-5-22 09:22:37

谢谢 thanks a lot

igolaps · 发表于 2024-5-22 20:36:11

thanks

opqfeixue122 · 发表于 2024-9-20 18:08:38

感谢分享

真诚的小鲸鱼 · 发表于 2024-10-29 14:01:35

我也是想要的

高音偏冷 · 发表于 2024-11-26 16:06:37

感谢楼主分享

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[资料] Testing and Design-for-Testability (DFT) for Digital Integrated Circuits

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