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楼主: BraveTiger

[求助] 一个die上两个完全的LDO,流片测试输出却不一样。

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 楼主| 发表于 2024-3-12 16:20:38 | 显示全部楼层


   
chenju2121 发表于 2024-3-12 16:12
LDO有没有被BUMP压住


大佬,什么是BUMP啊
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发表于 2024-3-12 16:22:53 | 显示全部楼层
参考电压呢? 然后还可以多测一些数据。列到excel绘图,找找规律。
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发表于 2024-3-12 16:24:40 | 显示全部楼层


   
BraveTiger 发表于 2024-3-12 16:20
大佬,什么是BUMP啊


bump就是pad,封装可能会造成应力,导致pad下的器件特性发生变化,据说会导致bandgap电压偏一点,没有实际验证过。
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 楼主| 发表于 2024-3-12 18:05:39 | 显示全部楼层


   
nanke 发表于 2024-3-12 16:24
bump就是pad,封装可能会造成应力,导致pad下的器件特性发生变化,据说会导致bandgap电压偏一点,没有实 ...


哦哦 我们没用bump  用的PAD
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发表于 2024-3-12 18:19:07 | 显示全部楼层
封装和PCB走线确定是一样的吗?
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 楼主| 发表于 2024-3-13 09:12:54 | 显示全部楼层


   
xyzgood 发表于 2024-3-12 18:19
封装和PCB走线确定是一样的吗?


没有封装,裸DIE测试的,用的相同的EVB板子
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发表于 2024-3-13 10:19:15 | 显示全部楼层
多测下同个lot的数据,看看WAT数据,也可能是制造问题。
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发表于 2024-3-13 10:52:07 | 显示全部楼层
正常,在公司的你和在家的你也是不应的吧
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 楼主| 发表于 2024-3-13 11:39:17 | 显示全部楼层


   
maomao198477 发表于 2024-3-13 10:52
正常,在公司的你和在家的你也是不应的吧


但是差距太大了,不能用了
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发表于 2025-7-2 10:35:48 | 显示全部楼层
反馈电阻网络直接到的EA放大器的输入端
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