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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于IEEE1149．4的测试方法研究

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楼主: lemomn

基于IEEE1149．4的测试方法研究

发表于 2008-7-10 13:15:49 | 显示全部楼层

很好的資料，感謝大大無私的分享。

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发表于 2009-4-18 15:36:12 | 显示全部楼层

eer

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发表于 2009-4-19 04:41:52 | 显示全部楼层

谢谢楼主共享，

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发表于 2010-6-29 20:38:48 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2010-12-14 15:12:45 | 显示全部楼层

看不太懂，但還是謝謝啦

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发表于 2010-12-14 17:10:48 | 显示全部楼层

good share

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发表于 2011-2-14 20:37:30 | 显示全部楼层

看看再说

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发表于 2011-6-19 10:28:39 | 显示全部楼层

下来看看

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发表于 2012-3-29 11:06:43 | 显示全部楼层

kankan xian

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