请教两个关于DFT的问题：1. 常见的test coverage 提升的方法；2. 碰到的atpg 前仿中常见mismatch？

江湖人92

请教两个关于DFT的问题：
1. 常见的test coverage 提升的方法2. 碰到的atpg 前仿中常见mismatch是啥？

急！还望各位大佬不吝赐教~非常感谢~~~

hiee

你这个问题太大，很难回答

江湖人92

   

hiee 发表于 2022-7-19 17:06
你这个问题太大，很难回答

大佬 举个例子，解释下呗

leadway1314

踏马弱###智才会问的问题

Kingwhale

1：
a.修复scan DRC error，主要是时钟和复位的DFT 可控性；
b.给memory和模拟模块做scan bypass wrapper；
c.插test point增加可控性和可观测性；
d.如果用了scan 压缩逻辑，可以适当降低压缩率；

2：
a.最常见的是仿真环境没有正确设置引起的，比如时钟、复位， 或者mode 信号没有正确配置；
b.仿真工具bug，比如寄存器的时钟和数据同时跳变的时候，寄存器输出端应输出时钟沿前的值，但有时候仿真工具会输出时钟沿后的值；