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[求助] 请教两个关于DFT的问题:1. 常见的test coverage 提升的方法;2. 碰到的atpg 前仿中常见mismatch?

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发表于 2022-7-19 16:27:23 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏1000资产未解决
请教两个关于DFT的问题:
1. 常见的test coverage 提升的方法2. 碰到的atpg 前仿中常见mismatch是啥?

急!还望各位大佬不吝赐教~非常感谢~~~

发表于 2022-7-19 17:06:13 | 显示全部楼层
你这个问题太大,很难回答
 楼主| 发表于 2022-7-19 17:15:17 | 显示全部楼层


   
hiee 发表于 2022-7-19 17:06
你这个问题太大,很难回答


大佬 举个例子,解释下呗
发表于 2022-7-20 23:44:10 | 显示全部楼层
踏马弱###智才会问的问题
发表于 2022-7-21 16:41:45 | 显示全部楼层
1:
a.修复scan DRC error,主要是时钟和复位的DFT 可控性;
b.给memory和模拟模块做scan bypass wrapper;
c.插test point增加可控性和可观测性;
d.如果用了scan 压缩逻辑,可以适当降低压缩率;

2:
a.最常见的是仿真环境没有正确设置引起的,比如时钟、复位, 或者mode 信号没有正确配置;
b.仿真工具bug,比如寄存器的时钟和数据同时跳变的时候,寄存器输出端应输出时钟沿前的值,但有时候仿真工具会输出时钟沿后的值;
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