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[求助] 怎么通过测得的器件的特性曲线反推得到器件的model

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发表于 2022-6-6 17:55:02 | 显示全部楼层 |阅读模式

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目前有实际测得的器件的特性曲线,有什么方法可以得到器件的model(工艺参数)?需要利用什么工具以及软件呀?求大佬们多多指教。
发表于 2022-6-9 10:29:10 | 显示全部楼层
看你的器件是什么工艺的器件了。III-V组 Keysight ICCAP,CMOS:Keysight MBP,  概伦:ProPlus
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