设为首页 收藏本站
在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › 求一篇test transparency的文章，谢谢
返回列表 发新帖
查看: 1843|回复: 3

[原创] 求一篇test transparency的文章，谢谢

[复制链接]
shake2004
发表于 2022-5-25 08:58:35 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

×
E. J. McCluskey and F. Buelow, IC quality and test transparency, in Proc.IEEE Int. Test Conf., pp. 295–301, September 1988.

回复

举报

Starspark
发表于 2022-5-25 09:34:44 | 显示全部楼层
见附件

IC_qualityd_and_test_transparency.pdf

551.07 KB, 下载次数: 13 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
回复 支持 反对

举报

student321
发表于 2022-5-25 21:36:37 | 显示全部楼层
kankana
回复 支持 反对

举报

longcai1988
发表于 2022-5-28 10:20:02 | 显示全部楼层
.........
回复 支持 反对

举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-6-13 08:48 , Processed in 0.081798 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表