ATE scan chain輸出波形

thjan65 · 发表于 2020-12-4 20:28:54

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版上高手請教,最近公司某產品部分device scan chain 固定 fail 在第N個 cycle
波形大約如附圖上半. FAIL時, 輸出電壓只有1.2Volt. 正常為1.8Volt.
如果我請test engineer 將第N個vector pause 2us, 如下圖之後,

電壓輸出可以升到1.8V. 也可以PASS.

請問有人知道大概是甚麼原因嗎?

chings · 发表于 2020-12-6 13:29:41

測試速度過快有 timing violation ?
導致尚未 stable ?

thjan65 · 发表于 2020-12-6 15:50:00

本帖最后由 thjan65 于 2020-12-6 15:54 编辑

scan clock: 2Mh.
operating clock: 12MHz

問題點是glitch free clock switch, CLK1 第二級(negative edge) FF.
沒有使用lockup latch, scan chian post sim: PASS

我也是認為violation.

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[求助] ATE scan chain輸出波形

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